INDUSTRY EPIWAFERS


Boosting


triple-junction yield with in-situ monitoring


In-situ monitoring provides a great deal of valuable information for developers and producers of multi-junction solar cells. It can determine interface quality; the thickness, doping level and composition of every layer; and wafer bow, says Oliver Schulz from LayTec.


44 www.compoundsemiconductor.net August / September 2013


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